IC芯片缺陷检测利用好X-RAY无损检测设备
2020-11-18 23:10:14
相信大家都知道，日常生活中我们常见的家用的电器，比如手机、电脑、冰箱、电视等等，都含有IC芯片。由于IC芯片比较精密主要由微型电子器件或部件构成。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗和高可靠性方面迈进了一大步。
但越精密的电路，检测难度就越复杂。当前芯片检验的常用方法通常是将芯片层层剥开，再用电子显微镜对每一层表面进行拍摄，这样检测方式对芯片具有极大破坏性，此时，X-RAY无损检测设备可助一臂之力。
X-RAY检测设备主要是采用的X光检查机中产生的X射线照射芯片表面，X射线的穿透力很强，能够穿透芯片后成像，芯片内部结构断裂情况一览无余，使用X光对芯片检测的最主要特点是对芯片本身没有损伤，因此这种检测方式也叫无损探伤。
芯片是一种较为精密的电子元器件，对其进行质量检测的设备精度要求较高，此款X-ray无损检测设备X-7100在电子电路行业检测多年，是一款性能稳定，功能强大的检测设备。广泛应用于PCB板、SMT、LED、半导体元器件和铸件加工等行业。
X-ray检测设备满足客户对工件检测的各种要求，同时可以根据客户需求，大容量高分辨率高放大倍率的全新检测系统，实现三维重建CT功能。自动图像过滤，成像快，效率高，输入角度值自动旋转到需要的角度，精密步进移载定位及旋转机构，检测角度任意调整，保证取图质量及检测精度。
推荐产品
相关信息