X-RAY设备
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迷你通用型X-RAY检测系统_X-5100
迷你通用型X-RAY检测系统_X-5100
载物台:310*290mm 检测精度:15um 放大倍数:80X 检测领域:常见电子元器件 通道尺寸:

X-5100X-RAY设备可以检测低于15微米的缺陷,设备方便维护,使用寿命长,操作简单,减少操作人员的培训工作,检测的重复精度高。

功能优势
功能CNC程序:自动批量检测样品不同位置
阵列功能:自动批量检测位置固定、间距相同样品
气泡测量:一键测量气泡大小、空洞率
长度、宽度测量:测量部分检测区域长度、宽度
可视化导航界面:检测位置精准定位
模拟颜色:更好观察检测图像
优势自动 ON/OFF X-RAY光管批量检测样品
搭配80KV长寿命光管,检测精度达15um
高分辨率数字X-RAY平板,1280*1050px图像更清晰
几何放大80x,系统放大500x
310*290mm载物台可容纳大量各种尺寸样品
可选载物台360°旋转检测样品
半自动的NG/OK产品检测


规格参数

Model

X-5100

X-ray 光管类型封闭式
空间分辩率15um
光管电压80KV(可选90KV)
光管电流100uA
放大倍率几何放大80X,系统放大500X
数字平板探测器分辩率1280*1050px(可选1644*1648)
数字平板探测器密度值14bit (16348)
图像速度22(FPS)
平板旋转角度60°
载物台尺寸310*290mm
X-Y 行程 980*980mm
检测范围 290*275mm
机器尺寸867*883*1409mm (L*W*H)
机器重量375KG
操作系统WINDOWS 10
电源/功率AC110-220V 50-60HZ 1200W
辐射安全测试 <1 uSV/H




应用领域
半导体X-RAY检测设备 X-7900可以检测半导体3um的缺陷、一键测量汽包大小及空洞率,并可以将缺陷几何放大400X,检测图像系统放大2500X。
X-7100 X-RAY检测领域广泛,通常应用于电子元器件的内部结构检测,常见气泡空洞率测量、电路短路断路、焊点缺焊少焊漏焊、内部存在异物裂缝等.....
功能特点优势精准点数最小01005识别正确率高达99.99%可同时点不同料盘,同时成像,自动编号/计数点数能力无惧异型料、散料、多盘6-10秒快速读数智能读码读取料盘全部标签码并输出MES减少工序数目,缩短流程路线,提高效率数据管理对接MES,数据自动更新自带数据库,提供查询打印
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