X-3000TN首次创新采用半导体应用到面密度，采样采用16bit 数字输出，搭配高精度AD转换；可以实现200KHZ 超高采样频率；可以宽范围测试不同的材料，检测精度 0.1um。
Product Introduction
| 优势 | X射线的能量由内部高稳定性高压电源决定，不会随着时间衰减，保证测量的长期稳定性。 |
| 测量锂离子极片所用X射线能量相对较低，对周围环境的辐射剂量小，申请国家许可证更容易。 | |
| 在线动态非接触测量 速度可达25m/min | |
| 温度自动补偿机制，能够提高测量精度 |
Product Introduction
| Model: | X-3000TN |
测量范围 | 0-1000 g/m2 |
重复精度 | ±1‰ or >0.25g/m2 |
| 扫描速度 | 5-28m/min可调 |
射线类型 | X射线（射线管） |
测量原理 | 射线衰减率测量 |
适合产品 | 阴极极片、铜箔、铝箔 |
直接测量指标 | 面密度 |
放射性防护指标 | 豁免标准《GB18871-2002》 |
使用年限 | 2.5年（更换X射线管） |
驱动系统 | 高精度伺服驱动 |
扫描架类型 | C型架/O型架（可选） |
最小检测下限 | 0.1um |
SDD 探测器 扫描频率 | 10-200khz |
电子称精度 | 0.1g( 0-2000g 量程) |
设备重量 | 1380k |
| 输入电源 | 220v AC ,50HZ, 2500W |
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Product Introduction
