通用型X-RAY检测设备_XF-3000_X-RAY设备-SXRAY瑞茂光学

XF-3000 涂层分析+ROHS检测一体分析仪

空间分辨率：5nm，（5ppm）像素矩阵：185*185px 旋转/倾斜角度：45°

XF-3000 涂层厚度分析仪是一款面向镀层、膜厚、涂层行业厚度无损检测的X射线荧光光谱仪，可广泛应用于涂层厚度产品质量的管理。该产品既可以分析各种金属涂层厚度以及成分分析，可同时分析基材和镀材的成分及厚度。

详细信息

功能	XF-3000 涂层厚度仪是一款用户界面友好的台式光谱分析仪器，为满足用户的多种使用需求，专门配置了手动XY轴工作台用于精确定位。
	本型号光谱仪的射线发生装置和Fast SDD探测器均装配于仪器下部，待测样由中置薄膜承托，射线光斑均作用于样品底面，最小光斑可聚至0.1mm。
	得益于“样品腔尽量大，整机尽量小”的RMM设计理念，本型号光谱仪可完美支持多尺寸大工件测试。
	所有的测试分析过程，均有加载Smart FP 算法的定制软件收录呈现，测试结果可经过统计控制台多向溯源和抄送。
	作为专业射线类产品，XF-P3 测试性能完全满足GB/18871-2002、XF-3000系列、ASTM-B568等国际通行标准。型式许可亦符合《中华人民共和国放射性污染防治法》。RMI-2022 辐射产品管理办法。

规格参数

主要部件	参数名称	XF-3000S	XF-3000B
精度下限	检测精度	5nm，（5ppm）	100nm，（100ppm）
精度下限	层数极限	6层	2层
X射线装置	初级射线方向	从下往上	从下往上
	高压电	50KV/1mA数字高压电源	50KV/1mA数字高压电源
	X射线管	50KV/1mA	50KV/1mA
	窗口材料	铍窗	铍窗
	靶材	MO	MO
	焦点	ϕ 0.1mm	ϕ 0.1mm
	独立程控准直器3	0.1mm×0.2mm / 0.2mm×0.5mm / ϕ1.0mm	0.1mm×0.2mm / 0.2mm×0.5mm / ϕ1.0mm
	独立程控滤光片3枚	空气滤光片、镍钛双层、高纯铝	空气滤光片、镍钛双层、高纯铝
X荧光探测	探测器类型	RMI 进口SDD探测器	RMI 进口SDD探测器
	成像面积	10MM*10MM	10MM*10MM
	感光单元尺寸	18UM	18UM
	像素矩阵	185*185	185*185
	SDD 倾斜角度	45度	45度
	探测下限	小于5ppm（5nm)	小于5ppm（5nm)
电⽓参数	输入电压	交流100～240V，50Hz	交流100～240V，50Hz
	额定功率	<150W	<150W
	噪音	30dB	30dB
型式参数	产品尺寸	467mm x 345mm x 336mm	467mm x 345mm x 336mm
	产品包装尺寸	770mm x 510mm x 400mm	770mm x 510mm x 400mm
	毛重	50 Kg	50 Kg
	电源/功率	AC110-220V50-60HZ 1200W	AC110-220V50-60HZ 1200W
环境要求	温度	15℃～31℃	15℃～31℃
环境要求	湿度	< 70%（不结露）	< 70%（不结露）
样品定位	样品腔尺寸	306mm x 248mm x 124mm	306mm x 248mm x 124mm
	图像协助	超高清CCD摄像头（内置红点视野）	超高清CCD摄像头（内置红点视野）
	LED光源	可调节亮度	可调节亮度
	支持配件	固定平台	固定平台
	XY双轴行程	5mm*5mm	5mm*5mm
计算单元	内置工控电脑	INTEL NUC 嵌入式	INTEL NUC 嵌入式
	XF软件版本	V2.1.0	V2.1.0
	系统固件版本	V8.10(C01)	V8.10(C01)
	DSP固件版本	V6.10	V6.10

检测案例

应用范围：	具体领域：
防护性镀层分析厚度和浓度	一般用于防止金属零件的腐蚀，通常的镀锌层、镀镉层和镀锡层属于此类组成
装饰性镀层分析厚度和浓度	一般用于日用品及机电产品，如钢铁基体，铜基体，银镀层上镀金或金合金等。
功能性镀层分析厚度和浓度	一般用于修复和制造的工程镀层等
电镀药液的成分含量	电镀液主要包括主盐、导电盐、缓冲剂、络合剂、添加剂等
DACROMET工艺检定	简称达克罗、达克锈、迪克龙。国内命名为锌铬涂层，是一种新型的耐腐涂层。