nano CT X-9200K电子半导体测试设备，最小0.6um 的检测精度，可用于检测集成电路芯片半导体，例如BGA， IGBT，倒装芯片和PCBA组件焊接， LED邦定，IC 封装等行业的高精度测试。
Product Introduction
Product Introduction
| Model: | X-9200k |
| X-ray 光管类型 | 开放式 |
| 空间分辩率 | 0.6μm-2μm |
| 光管电压 | 160kv |
| 光管电流 | 1000μA |
| 放大倍率 | 2100x/10000x（未安装360°旋转平台的情况） |
| 数字平板探测器分辩率 | 1536*1536p |
| 数字平板探测器密度值 | 16bit (65536) |
| 图像速度 | 20（FPS) |
| 平板旋转角度/傾斜度 | ±70 ° |
| 载物台尺寸 | 600*605mm |
| 载物台最大承重 | 20KG |
| 检测范围 | 400*410mm |
| 机器尺寸 | 1810*2420*2400mm(L*W*H) |
| 机器重量 | 2200kg |
| 操作系统 | WINDOWS 10 |
| 电源/功率 | AC 380V 3相 50-60HZ 1800W |
| 辐射安全测试 | <1 uSV/H |
Product Introduction
